Techniki radzenia sobie z wyciekiem w ostatnim etapie i dynamicznym spadkiem IR

Name: Techniki radzenia sobie z wyciekiem w ostatnim etapie i dynamicznym spadkiem IR
Brand: Wydawnictwo Nasza Wiedza
Availability: OutOfStock
Rating: 5 (1 reviews)

By N. S. Murti Sarma

0 - Default Title

Description

W niniejszej monografii omówiono problemy zwi¿zane z moc¿ rozpraszan¿, integralno¿ci¿ zasilania spowodowan¿ zapasowymi ogniwami oraz szczytowym spadkiem IR. Zakres proponowanego rozwi¿zania obejmuje poziom projektowania fizycznego zbli¿ony do zamkni¿cia projektu, gdzie narz¿dzia optymalizacyjne maj¿ ograniczone zasoby do rozwi¿zania tych problemów. Istnieje jednak wiele mo¿liwo¿ci dalszych prac w innych obszarach o niskim spektrum PM, takich jak poziom obwodów, poziom architektury, poziom projektowania i poziom kodowania oprogramowania. Wi¿kszo¿¿ wspó¿czesnych projektantów pó¿przewodników nie jest zainteresowana najnowszymi technikami, takimi jak przep¿ywy ECO macierzy bramek przy u¿yciu zestawów ECO dostarczanych przez dostawców bibliotek, ze wzgl¿du na wysi¿ek zwi¿zany z modyfikacj¿ istniej¿cych przep¿ywów i napi¿te harmonogramy projektowania. Proponowana technika "optymalnego przypisywania stanów" mo¿e pomóc w zmniejszeniu up¿ywu energii w komórkach zapasowych bez wp¿ywu na przep¿ywy projektowe, ale przej¿cie na te nowe techniki pomo¿e w cäkowitej redukcji up¿ywu energii w komórkach zapasowych. Innym mo¿liwym obszarem przysz¿ych badä jest wykorzystanie bibliotek 65 nm, 45 nm, 32 nm i 28 nm do implementacji ró¿nych architektur o intensywnym przep¿ywie danych w celu walidacji proponowanej techniki "selektywnej redukcji zak¿óce¿".

Product details

Binding:: Paperback
Number of Pages:: 108
Release Date:: 2025-12-03
Publication Date:: 2025-12-03
Publisher:: Wydawnictwo Nasza Wiedza
Languages:: Original: Polish
ISBN10:: 6209330452
ISBN13:: 9786209330452
Weight:: 179 g
Height:: 15 cm
Width:: 22 cm
Thickness:: 0.7 cm

Buy on Amazon

Currently sold out

Add to Wishlist