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Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau
Röntgendiffraktometrische Ermittlung tiefenabhängiger Eigenspannungsverteilungen in Dünnschichtsystemen mit komplexem Aufbau
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Product details
- Binding:
- Paperback
- Number of Pages:
- 106
- Publication Date:
- 2010-01-04
- Publisher:
- Universitätsverlag der TU Berlin
- Languages:
- Published: German, Original: German
- ISBN10:
- 3798321450
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Very good
Almost no signs of wear. Book pages have no markings, accessories are intact and all other media are in good condition.
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