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Elektrische Messung der Kontaktfläche an Körpern mit dünnen Widerstandsschichten
By Sick, Jan H
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Description
Unter Anwendung eines j?ngst von DENHOFF ver?ffentlichten Modells f?r einen elektrischen Einzelkontakt wird ein Modell f?r fragmentierte elektrische Kontakte mit definierten Widerstandsschichten vorgeschlagen, welches innerhalb gewisser Grenzen ohne besondere Annahmen zu den geometrischen Gr??enverh?ltnissen des einzelnen Mikrokontakts auskommt. Auf dieser Basis wird begr?ndet, wie mit einem minimalen messtechnischen Aufwand der Zusammenhang von elektrischem Kontaktwiderstand, wahrer Kontaktfl?che und ihrer Fragmentierung beurteilt werden kann.
Mit diesem Modell f?r fragmentierte Kontakte wird die messtechnische Anwendung in Gestalt eines neuen Verfahrens zur Bestimmung von Mikrotopographie und mikromechanischen Eigenschaften in einer makroskopischen Testanordnung vorgeschlagen.
Zus?tzlich wird der Versuch einer praktischen Umsetzung beschrieben, einschlie?lich einer Abgleichmethode und Untersuchung der Einflussgr??en, welche die Messunsicherheit bestimmen.
Product details
- Binding:
- Paperback
- Edition:
- 1
- Number of Pages:
- 170
- Publication Date:
- 2010-02-28
- Publisher:
- Shaker Verlag
- Languages:
- Original: German
- ISBN10:
- 3832285555
- ISBN13:
- 9783832285555
- Weight:
- 255 g
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