Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie

Name: Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie
Brand: Verlag Unser Wissen
Availability: OutOfStock
Rating: 5 (1 reviews)

By Solanki, Dr. Vanarajsinh

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Description

Dieses Buch konzentriert sich auf das Funktionsprinzip des AFM, seine verschiedenen Modi (d.h. Kontakt-, berührungslose und Klopfmodi), die Analyse einiger AFM-Ergebnisse und einige Anwendungen. Dieses Buch unterstreicht auch die Eigenschaften des AFM als vielseitiges und nützliches morphologisches Werkzeug zum Scannen einer großen Vielfalt von Oberflächen mit einer planaren Auflösung, die von Nanometerskalen bis hin zu atomaren Skalen reicht. Wir hoffen, dass dieses Buch für Forscher und Studenten hilfreich ist, um das Grundkonzept des AFM zu verstehen und es für verschiedene Arten von Proben einzusetzen.

Product details

Binding:: Paperback
Number of Pages:: 52
Release Date:: 2022-05-05
Publication Date:: 2022-05-05
Publisher:: Verlag Unser Wissen
Languages:: Published: German, Original: German
ISBN10:: 6204698060
GPSR Manufacturer Reference:: [email protected]
Weight:: 91 g
Height:: 22 cm
Width:: 15 cm
Thickness:: 0.3 cm

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