Placeholder text

Métrologie tridimensionnelle des états de surface: par microscopie confocale à champ étendu

Name: Métrologie tridimensionnelle des états de surface: par microscopie confocale à champ étendu
Brand: Éditions universitaires européennes
Availability: OutOfStock
Rating: 5 (1 reviews)

By Dimitri VAISSIERE

0 - Default Title

Product details

Binding:

Paperback

Number of Pages:

212

Release Date:

2010-07-06

Publication Date:

2010-07-06

Publisher:

Éditions universitaires européennes

Languages:

Published: French, Original: French

ISBN10:

6131509530

Weight:

318 g

Currently sold out