Controllo dell'invecchiamento dei transistor di potenza

Name: Controllo dell'invecchiamento dei transistor di potenza
Brand: Edizioni Sapienza
Availability: OutOfStock
Rating: 5 (1 reviews)

By Tarek Ben Salah

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Description

Questo libro presenta uno studio sperimentale approfondito sul comportamento dei transistor SiC JFET per applicazioni aerospaziali complesse. Viene descritta una metodologia completa, che comprende la progettazione di un banco di prova automatizzato utilizzando LabView, test di robustezza per determinare l'energia critica e test di invecchiamento accelerato per monitorare i cambiamenti dei parametri elettrici. I risultati evidenziano indicatori di degrado affidabili e aprono interessanti prospettive per la progettazione di sistemi elettronici più resistenti in ambienti estremi.

Product details

Binding:

Paperback

Number of Pages:

88

Publication Date:

2025-06-17

Publisher:

Edizioni Sapienza

Languages:

Original: Italian

ISBN10:

620893947X

ISBN13:

9786208939472

GPSR Manufacturer Reference:

[email protected]

Weight:

149 g

Height:

150 cm

Width:

220 cm

Thickness:

6 cm

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