{"product_id":"ben-salah-tarek-kontrola-starzenia-si-tranzystorow-mocy-9786208939489","title":"Kontrola starzenia si¿ tranzystorów mocy","description":"Niniejsza ksi¿¿ka przedstawia dog¿¿bne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagaj¿cych zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletn¿ metodologi¿, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymäo¿ciowe w celu okre¿lenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkre¿laj¿ wiarygodne wskäniki degradacji i otwieraj¿ interesuj¿ce perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych ¿rodowiskach.","brand":"Wydawnictwo Nasza Wiedza","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":53702756303190,"sku":null,"price":0.0,"currency_code":"EUR","in_stock":false}],"url":"https:\/\/www.momoxbooks.com\/products\/ben-salah-tarek-kontrola-starzenia-si-tranzystorow-mocy-9786208939489","provider":"momoxbooks","version":"1.0","type":"link"}