{"product_id":"ben-salah-tarek-controlo-do-envelhecimento-dos-transistores-de-potencia-9786208939496","title":"Controlo do envelhecimento dos transístores de potência","description":"Este livro apresenta um estudo experimental aprofundado do comportamento dos transístores SiC JFET para aplicações aeroespaciais exigentes. É descrita uma metodologia completa, incluindo a conceção de um banco de ensaios automatizado utilizando LabView, testes de robustez para determinar a energia crítica e testes de envelhecimento acelerado para monitorizar as alterações nos parâmetros eléctricos. Os resultados obtidos evidenciam indicadores de degradação fiáveis e abrem perspectivas interessantes para a conceção de sistemas electrónicos mais resistentes em ambientes extremos.","brand":"Edições Nosso Conhecimento","offers":[{"title":"Default Title","offer_id":53704406139222,"sku":null,"price":0.0,"currency_code":"EUR","in_stock":false}],"thumbnail_url":"\/\/cdn.shopify.com\/s\/files\/1\/0925\/5829\/5382\/files\/product_image_9786208939496_1_ad81bbee-1700-4993-8f26-491345f7db76.jpg?v=1781759583","url":"https:\/\/www.momoxbooks.com\/products\/ben-salah-tarek-controlo-do-envelhecimento-dos-transistores-de-potencia-9786208939496","provider":"momoxbooks","version":"1.0","type":"link"}